近日，合肥工業(yè)大學研究人員在光學測量領域提出一種分析方法，在精密測量中實現(xiàn)了高階標定模型的計算效率和穩(wěn)定性的大幅提升。該成果被《測量科學與技術》評選為亮點論文。

條紋投影掃描測量技術憑借非接觸式測量、測量速度快以及測量精度高等優(yōu)點，廣泛應用于逆向工程、文物保護等復雜曲面幾何參數(shù)的精密測量領域。但由于條紋投影掃描測量技術需要通過高階模型進行標定，在測量中獲取的各項數(shù)據(jù)在高階模型中標定較為困難，從而影響了測量結果的穩(wěn)定性。
研究人員針對標定模型優(yōu)化、自適應有效點云識別以及相位誤差補償?shù)汝P鍵問題，提出了創(chuàng)新性的解決辦法，從而獲取了高精度的三維輪廓點云。同時，該團隊提出一種確定高階標定模型中各組成項對重構結果重要性的分析方法，可在測量過程中識別并剔除對重構結果影響微小的組成項，并通過優(yōu)化高階標定模型，在保證精度的前提下，提升了高階標定模型的計算效率和穩(wěn)定性。據(jù)介紹，該成果可廣泛應用于高精度光學三維掃描領域。目前，該團隊已在條紋投影測量技術領域申請4項國家發(fā)明。　編輯點評　　新的光學測量方法不僅能夠實現(xiàn)高階標定模型的計算效率和穩(wěn)定性，并且提高了測量速度以及測量精度，能夠為今后光學測量儀器設備提高技術上的支持和創(chuàng)新，同時能夠得到更為的分析數(shù)據(jù)。

（原標題：合肥工大提出精密測量新分析法）
（來源：中國科學報）